KLA-Tencor公司 超微力台阶仪/膜厚仪 (用于薄膜,厚膜FPD(LCD,TP,CF),MEMS 太阳能,LED,光电子...)
XP-1/XP-2 XP-100(D100)/XP-200(D120)/XP-300 α-step IQ(100,200,250,500) α-step P6 α-step P16+(P1,P2,P10,P11,P11,P15) α-step P16+0F
KLA-Tencor公司 光学轮廓仪 (白光干涉/ 移相干涉)
MicroXam 100 MicroXam 1200 膜厚 摩擦学 超精密光学及机械加工表面 MEMS 太阳能 LED(PSS) 光电子器件 LCD
MNC公司 半导体衬底厚度测量设备
Si 兰宝石Al2O3 玻璃/LCD大尺寸玻璃 光学晶体 SiC GaAs 单/多晶太阳能硅片 背减薄厚度测试 粗糙度,平整度 在线厚度检测
MNC公司 光谱色散3D轮廓仪
测量三维形貌,微纳结构 测量平整度,波度,翘曲度 测量纳米级粗糙度 测量基片/基板/箔片的厚度 测量大型异型件(球面,非球面)
MNC公司 太阳能及湿膜厚度测量
厚膜电路 丝网印刷 太阳能 太阳能绒面 粗糙度,平整度 TSV孔
MNC公司 PCB板膜厚测量设备
金属膜层 绿油 TSV深孔 粗糙度,平整度 在线厚度检测
MNC公司 玻璃厚度测试仪
测量玻璃厚度 测量TTV 在线测量 适用于其他透明材料
SOPRA公司 光谱式椭偏仪
极深紫外光谱式椭偏仪 深紫外光谱式椭偏仪 可见光光谱式椭偏仪 近红外光谱式椭偏仪 红外光谱式椭偏仪 椭偏孔隙率仪(薄膜孔隙率测量) 与X射线联用椭偏仪 半导体用全自动工业椭偏仪 FPD用全自动工业椭偏仪 Solar用全自动工业椭偏仪
Stil公司 共焦传感器
共焦传感器
Nanosurf公司 原子力显微镜(AFM)
扫描隧道显微镜STM 小样品原子力显微镜Easyscan 大样品原子力显微镜Manle 半导体用工业原子力显微镜
本公司提供各种品牌的探针： 美国Applied Nano 德国NanoSensors 瑞士Nanoworld 爱沙尼亚Mikromasch 保加利亚Budgetsensor
探针种类： 全球最尖的1nm探针 导电探针 金刚石探针 力标定探针 深宽比探针 CNT探针 磁力探针 化学探针 无针尖悬臂梁 特殊探针
NAM-1 纳米声学显微镜
原子力显微镜 探针资料
NanoSensors
NanoWorld
BudgetSensor
MikroMasch
Applied Nano
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