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  Shanghai Haijiang NanoSci & Tech Co. Ltd
 
   

                       
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KLA-Tencor公司
超微力台阶仪/膜厚仪

(用于薄膜,厚膜FPD(LCD,TP,CF),MEMS
太阳能,LED,光电子...)

XP-1/XP-2
XP-100(D100)/XP-200(D120)/XP-300
α-step IQ(100,200,250,500
)
α-step
P6
α-step
P16+(P1,P2,P10,P11,P11,P15)
α-step P16+0F

KLA-Tencor公司
光学轮廓仪
(白光干涉/ 移相干涉仪)

MicroXam 100
MicroXam 1200

膜厚
摩擦学
超精密光学及机械加工表面

MEMS
太阳能
LED(PSS)
光电子
器件
LCD

Filmetrics公司
光谱式反射膜厚仪

单点测量:F20,F10-RT,F10-AR,
      PAR
TS,F10-HC,F10-PA,F70
显微镜微斑测量:
      F40,F40-UV,F40-NSR,F42

自动测量:
      F50,F60-t,F60-c,F80t,F80-c

在线测量:F30,F37

深紫外/可见光/近红外
测量: 光刻胶(含100um以上厚胶),PI,
    SiO2,SiN,Pol
ymer,...

 

MNC公司
MN-1光谱色散3D轮廓仪

测量三维形貌,微纳结构
测量平整度,波度,翘曲度
测量纳米级粗糙度
测量基片/基板/箔片的厚度
测量大型异型件(球面,非球面)


 

MNC公司
MN-2 太阳能及湿膜厚度测量

厚膜电路
丝网印刷
太阳能
太阳能绒面
粗糙度,平整度
TSV孔


 

MNC公司
MN-3 PCB板膜厚测量设备

金属膜层
绿油
TSV深孔
粗糙度,平整度
在线厚度检测

 

MNC公司
GT-100 玻璃厚度测试仪

测量玻璃厚度
测量TTV
在线测量
适用于其他透明材料

Stil公司
共焦传感器

共焦传感器
共焦
轮廓仪
厚度测试仪


The AFM Workshop
原子力显微镜

TS-AFM型小样品原子力显微镜
NP-AFM型大样品原子力显微镜   
SA-AFM型原子力显微镜 (可用于倒置光学显微镜/TERS)

设计和源代码公开
开放式的SPM平台
XY线性压电扫描器

 


SOPRA公司
GES5E光谱式椭偏仪

极深紫外光谱式椭偏仪
深紫外光谱式椭偏仪
可见光光谱式椭偏仪
近红外光谱式椭偏仪
红外光谱式椭偏仪
椭偏
孔隙率仪(薄膜孔隙率测量)
与X射线联用椭偏仪
半导体用全自动工业椭偏仪
FPD用全自动工业椭偏仪
Solar用全自动工业椭偏仪

 

MNC公司 WT-100
半导体衬底厚度测量设备

Si
兰宝石Al2O3
玻璃/LCD大尺寸玻璃
光学晶体
SiC
GaAs
单/多晶太阳能硅片
背减薄厚度测试
粗糙度,平整度
在线厚度检测

 

探针种类:
全球最尖的1nm探针
导电探针
金刚石探针
力标定探针
深宽比探针
CNT探针
磁力探针
化学探针
无针尖悬臂梁
特殊探针

 

原子力显微镜
探针资料

NanoSensors

原子力显微镜
探针资料

NanoWorld

原子力显微镜
探针资料

BudgetSensor

原子力显微镜
探针资料

MikroMasch

 


原子力显微镜
探针资料

Applied Nano

 

 
   


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